基于三維X射線顯微鏡的孔隙性砂巖中變形帶微觀結(jié)構(gòu)解析?

摘要：孔隙性砂巖中變形帶對(duì)揭示其相關(guān)地質(zhì)作用過(guò)程和工程應(yīng)用具有重要的意義,而其微觀結(jié)構(gòu)是其相關(guān)科學(xué)與工程研究的關(guān)鍵點(diǎn)。常規(guī)的巖石微觀結(jié)構(gòu)分析手段對(duì)于全面解析巖石內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)具有一定的局限性,而近年發(fā)展起來(lái)的三維X射線顯微成像技術(shù)可以無(wú)損地獲得巖石內(nèi)部微米尺度的三維精細(xì)數(shù)字化圖像,是建立巖石微觀結(jié)構(gòu)并對(duì)其進(jìn)行解析的有效手段。通過(guò)三維X射線顯微鏡對(duì)孔隙性砂巖中變形帶掃面,建立了高分辨率三維微觀結(jié)構(gòu)圖像,利用高密度切片圖像,對(duì)其微觀結(jié)構(gòu)特征進(jìn)行解析。根據(jù)變形帶微觀產(chǎn)出狀帶和顆粒破碎過(guò)程的解析,建立顆粒破碎-破碎顆粒與殘余破碎顆粒重新排列-局部顆粒破碎帶-弱顆粒破碎變形帶-強(qiáng)顆粒破碎變形帶-強(qiáng)弱顆粒破碎變形帶相間排列-簇狀變形帶的完整時(shí)間發(fā)育序列。