摘要：針對A位摻雜鈣鈦礦結(jié)構(gòu)錳氧化物(A1-xBxMnO3)薄膜材料的微弱低頻1/f噪聲信號檢測,采用基于雙通道信號互相關(guān)運算的測試方法,有效消除了接觸噪聲對本底噪聲的影響。通過對薄膜樣品La0.7Sr0.3MnO3的低頻1/f噪聲和電阻率測量,揭示了由不同襯底材料、不同厚度所引起的薄膜晶格內(nèi)部應(yīng)力變化對載流子輸運機制的影響。結(jié)果表明,薄膜樣品的1/f噪聲水平和導(dǎo)電特性與材料厚度變化密切相關(guān),La0.7Sr0.3MnO3/SrTiO3樣品在臨界厚度下表現(xiàn)出較低的1/f噪聲;而La0.7Sr0.3MnO3/SrTiO3/Si樣品隨著厚度增大,其1/f噪聲不斷優(yōu)化。上述結(jié)論對基于磁性材料的新型傳感器的研制具有重要的參考意義。