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    首頁 > 期刊 > 自然科學與工程技術 > 工程科技II > 電力工業 > 電源學報 > 六英寸Si基GaN功率電子材料及器件的制備與研究 【正文】

    六英寸Si基GaN功率電子材料及器件的制備與研究

    何亮; 張曉榮; 倪毅強; 羅睿宏; 李柳暗; 陳建國; 張佰君; 劉揚 中山大學電子與信息工程學院; 廣州510275; 江蘇華功半導體有限公司; 蘇州215215; 深圳方正微電子有限公司; 深圳518116; 中國電源學會
    • 6英寸si襯底
    • cmos工藝
    • 常關型

    摘要:氮化鎵(GaN)作為第三代半導體材料的代表,具有優異的材料物理特性,更加適合于下一代電力電子系統對功率開關器件更大功率、更高頻率、更小體積和更惡劣工作溫度的要求。為了兼容Si基CMOS工藝流程,以及考慮到大尺寸、低成本等優勢,在Si襯底上進行GaN材料的異質外延及器件制備已經成為業界主要技術路線。詳細介紹了在6英寸Si襯底上外延生長的AlGaN/GaN HEMT結構功率電子材料,以及基于6英寸CMOS產線制造Si基GaN功率MIS-HEMT和常關型Cascode GaN器件的相關成果。

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