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    電子測試雜志

    電子測試雜志 省級期刊

    預計1個月內 下單時間

    0.76 影響因子

    工業 快捷分類

    16286 發文量

    19899 總被引次數

    25 H指數

    0.0202 立即指數

    4.8708 引用半衰期

    0.9783 期刊他引率

    2.8566 平均引文率

    北京市科學技術研究院

    1994

    微電子測試

    北京自動測試技術研究所

    電子信息科學綜合

    1000-8519

    半月刊

    100098

    11-3927/TN

    中文

    陳曉筱

    預計1個月內

    82-870

    198

    ¥260.00

    投稿咨詢 加急見刊 雜志訂閱

    電子測試雜志簡介

    《電子測試》雜志(CN:11-3927/TN)內容豐富、思想健康,1994年創刊,目前以半月刊形式發行,刊物對外積極擴大宣傳,以介紹最新電子技術和測試測量技術為主,秉承一貫的專業性和權威性的辦刊宗旨,致力于提高雜志質量與影響。

    電子測試發文方向

    設計與研發虛擬儀器技術微處理器與編程器件的應用新品評測特集測試工具與解決方案新軟件新硬件產品咨詢與行業新聞

    電子測試雜志特色

    ①稿件署名作者應為合法著作權人,文責自負,文章內容無違法違規、不涉及保密,署名無爭議。文稿中摘編或引用他人作品,務請按《著作權法》有關規定在注釋資料中標明原作者姓名、作品名稱及其來源等。

    ②文稿附3~8個中英文對應的關鍵詞,中英文題名和作者單位。

    ③為方便前后文獻對照檢查,在投稿時作者應在文內的右上角標注序號,文后的參考文獻也對應地標上序號,以免重復或漏掉文獻。

    ④請在首頁地腳處注明作者姓名、學位、職稱、研究方向,首頁右上角注明聯系電話。

    ⑤本刊對來稿有修改權,不愿改動者,請事先說明。

    雜志收錄與榮譽

    知網收錄(中)
    維普收錄(中)
    萬方收錄(中)
    國家圖書館館藏
    上海圖書館館藏
    中國優秀期刊遴選數據庫
    中國期刊全文數據庫(CJFD)

    電子測試雜志數據統計注:由于版面限制,此處僅列出部分數據信息,了解詳情請聯系客服 了解詳情 >>

    年度期刊評價報告 (本刊綜合數據對比及走勢)
    名詞解釋:

    影響因子:指該期刊近兩年文獻的平均被引用率,即該期刊前兩年論文在評價當年每篇論文被引用的平均次數

    被引半衰期:衡量期刊老化速度快慢的一種指標,指某一期刊論文在某年被引用的全部次數中,較新的一半被引論文刊載的時間跨度

    期刊他引率:他引率是指,此期刊被引用次數中,被其他刊引用次數所占的比例

    引用半衰期:指某種期刊在某年中所引用的全部參考文獻中較新的一半是在最近多少年時段內刊載的

    平均引文率:在給定的時間內,期刊篇均參考文獻量,用以測度期刊的平均引文水平,考察期刊吸收信息的能力以及科學交流程度的高低

    雜志被引半衰期、引用半衰期

    雜志影響因子、被引次數

    雜志發文量、期刊他引率

    雜志平均引文率

    電子測試雜志文章分期部分匯總

    • 大功率D類功放的仿真研究

      王光旭; 任娟慧
    • 磁耦數字隔離器瞬態共模抑制性能的電路仿真方法

      徐昕; 陳品君; 劉路揚; 高會壯
    • 基于STM32F103單片機LED線陣顯示裝置的設計

      王先彪; 張仁朝; 張茂貴
    • 基于ESP8266的板卡模擬測試平臺設計

      馮光成
    • 藍牙跳頻通信系統仿真設計

      王文娟; 王欣; 霍曉磊

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    • 主管單位:北京市科學技術研究院
    • 主辦單位:北京自動測試技術研究所
    • 全年訂價:¥260.00
    • 期刊類別:工業

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