首頁(yè) > 期刊 > 自然科學(xué)與工程技術(shù) > 信息科技 > 無(wú)線電電子學(xué) > 電子質(zhì)量 > 基于卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的雙目測(cè)距研究 【正文】
摘要:該論文以雙目測(cè)距為研究對(duì)象進(jìn)行研究,將灰度值和新型窗口的數(shù)據(jù)作為輸入數(shù)據(jù)輸入到深度學(xué)習(xí)模型中,深度信息作為目標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行自頂向下的監(jiān)督學(xué)習(xí),以得到較好的訓(xùn)練預(yù)測(cè)模型。深度學(xué)習(xí)模型有許多種,該次實(shí)驗(yàn)主要采用卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(CNN)模型進(jìn)行訓(xùn)練,卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)是一類(lèi)包含卷積計(jì)算且具有深度結(jié)構(gòu)的前饋神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),是深度學(xué)習(xí)的代表算法之一,該次實(shí)驗(yàn)通過(guò)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)雙目測(cè)距的功能。
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