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    首頁 > 期刊 > 自然科學與工程技術 > 信息科技 > 無線電電子學 > 固體電子學研究與進展 > 高電流密度金剛石肖特基勢壘二極管研究 【正文】

    高電流密度金剛石肖特基勢壘二極管研究

    郁鑫鑫; 周建軍; 王艷豐; 邱風; 孔月嬋; 王宏興; 陳堂勝 南京電子器件研究所; 微波毫米波單片和模塊電路重點實驗室; 南京210016; 西安交通大學; 電子與信息工程學院; 西安710049
    • 金剛石
    • 肖特基二極管
    • 高電流密度

    摘要:報道了一種具有高正向電流密度和高反向擊穿場強的垂直型金剛石肖特基勢壘二極管器件。采用微波等離子體化學氣相沉積(MPCVD)技術在高摻p+單晶金剛石襯底上外延了一層275 nm厚的低摻p-金剛石漂移層,并通過在樣品背面和正面分別制備歐姆和肖特基接觸電極完成了器件的研制。歐姆接觸比接觸電阻率低至1.73×10-5Ω·cm^2,肖特基接觸理想因子1.87,勢壘高度1.08 eV。器件在正向-10 V電壓時的電流密度達到了22 000 A/cm^2,比導通電阻0.45 mΩ·cm^2,整流比1×1010以上。器件反向擊穿電壓110 V,擊穿場強達到了4 MV/cm。

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