摘要：通過失重法、極化曲線測試、掃描電鏡（SEM）和能譜（EDS）等方法研究了904L和CD4MCu兩種不銹鋼在硫酸中的腐蝕行為。結果表明，隨著硫酸濃度的增加，904L和CD4MCu都表現出自腐蝕電流密度增大，自腐蝕電位負向移動。CD4MCu的自腐蝕電流密度增大趨勢和自腐蝕電位的較少趨勢較904L明顯。904L耐蝕性要優于CD4Mcu。兩者的腐蝕產物主要為氧化物和硫化物。