首頁 > 期刊 > 自然科學與工程技術 > 工程科技II > 儀器儀表工業(yè) > 計量技術 > 豎直平板上電容法測量水膜厚度方法評價 【正文】
豎直平板上電容法測量水膜厚度方法評價
宋建; 韋勝杰; 于意奇; 胡珀; 楊燕華 解放軍海軍工程大學核能科學與工程系; 武漢430033; 上海交通大學核科學與工程學院; 上海200240
- 電容探針
- 動態(tài)水膜厚度
- 水膜表面波形態(tài)
- 誤差分析
- 探針有效截面
摘要：本文指出了電容探針測量動態(tài)水膜厚度的若干影響因素，并針對其中主要因素水膜表面波形態(tài)對測量的影響進行了定量分析。同時，定性分析了影響測量的諸如電容探針有效截面、平板表面水膜覆蓋情況和水膜波動速度及采樣頻率等其它因素對于測量的影響。誤差分析表明，電容探針的測量誤差與探針有效截面面積、探針截面與波動表面夾角成正比，與測量值的絕對值成反比。
- 電容探針
- 動態(tài)水膜厚度
- 水膜表面波形態(tài)
- 誤差分析
- 探針有效截面
摘要：本文指出了電容探針測量動態(tài)水膜厚度的若干影響因素，并針對其中主要因素水膜表面波形態(tài)對測量的影響進行了定量分析。同時，定性分析了影響測量的諸如電容探針有效截面、平板表面水膜覆蓋情況和水膜波動速度及采樣頻率等其它因素對于測量的影響。誤差分析表明，電容探針的測量誤差與探針有效截面面積、探針截面與波動表面夾角成正比，與測量值的絕對值成反比。
注：因版權方要求，不能公開全文，如需全文，請咨詢雜志社
