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    基于查找表的電路老化檢測傳感器設(shè)計(jì)

    張海明; 汪鵬君; 張躍軍 寧波大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院; 浙江寧波315211; 溫州大學(xué)數(shù)理與電子信息工程學(xué)院; 浙江溫州325035
    • 電路老化
    • 相位比較
    • 查找表
    • 老化檢測

    摘要:通過對電路老化檢測與查找表(Look-Up Table,LUT)方法的研究,提出一種基于查找表的電路老化檢測傳感器設(shè)計(jì)方案.該方案首先建立老化壓控振蕩器(Voltage Controlled Oscillator VCO)頻率降級?tp和電壓壓降?VDC的老化模型,通過老化感知電路產(chǎn)生基準(zhǔn)頻率和老化頻率其次,利用相位放大原理得到頻差信號(hào),并采用計(jì)數(shù)基準(zhǔn)VCO周期的方式將頻差信號(hào)量化.然后,按LUT規(guī)則將老化信息以電壓方式輸出.最后,在TSMC 65 nm CMOS工藝下仿真驗(yàn)證,結(jié)果表明所設(shè)計(jì)的老化檢測傳感器感應(yīng)分辨率為0.001 8%,老化模型計(jì)算值與仿真數(shù)據(jù)相對誤差在9%以內(nèi),能夠?qū)崿F(xiàn)電路老化檢測的功能.

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