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    首頁 > 期刊 > 自然科學與工程技術 > 信息科技 > 無線電電子學 > 微細加工技術 > 聚合物光波導的反應離子刻蝕工藝研究 【正文】

    聚合物光波導的反應離子刻蝕工藝研究

    陸志遠 胡國華 惲斌峰 崔一平 東南大學電子科學與工程學院先進光子學中心 南京210096
    • 反應離子刻蝕
    • 波導
    • pmma
    • 粗糙度
    • 側壁垂直度

    摘要:實驗研究了表面粗糙度、側壁垂直度與各刻蝕參量之間的關系,通過對刻蝕效果的分析,發現在低功率、高CHF3含量、低壓強的情況下能獲得最小的表面粗糙度;在高功率、50%CHF3含量、低壓強的情況下能獲得較陡直的波導側壁。利用優化的刻蝕條件,對PMMA進行刻蝕,得到了均方根粗糙度小、側壁陡直的波導。實驗發現,該刻蝕條件對其他聚合物光波導材料的刻蝕也具有一定的指導意義。

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