摘要：預期焦慮是由于對未發(fā)生結(jié)果的負性投射造成的焦慮情緒。本文比較了被試在不同預期焦慮水平下觀看愉快、中性及恐懼面孔時的行為和腦電數(shù)據(jù)。發(fā)現(xiàn)在高預期焦慮水平下,恐懼面孔誘發(fā)的N170波幅顯著大于低預期焦慮水平,而愉快和中性面孔在兩種水平下誘發(fā)的N170波幅差異不顯著,且預期焦慮水平對恐懼面孔誘發(fā)的N170波幅的調(diào)節(jié)強度與個體的特質(zhì)焦慮得分顯著相關(guān)。這些結(jié)果表明,預期焦慮水平會影響面孔表情加工,且不同情緒面孔受到的影響不同。我們推測,預期焦慮水平可能通過影響杏仁核等腦區(qū)的激活來調(diào)節(jié)顳上回對恐懼面孔的加工。