首頁 > 期刊 > 自然科學與工程技術 > 基礎科學 > 基礎科學綜合 > 應用科學學報 > 基于雙層回歸森林模型的頭影測量圖像結構特征點自動定位 【正文】
摘要:為了實現X射線頭影測量圖像中結構特征點的自動定位,提出一種基于雙層回歸森林模型的頭影測量圖像結構特征點自動定位方法.首先從圖像中提取外觀特征訓練第1層回歸森林模型,通過該模型生成針對當前特征點位置的偏移距離圖;然后從偏移距離圖中提取上下文特征,并結合外觀特征訓練第2層回歸森林模型;接著將雙層回歸森林模型用于待檢測的X射線頭影測量圖像,預測出圖像中每個像素關于目標特征點的偏移距離;最后根據回歸投票方法求得結構特征點位置.實驗結果表明,基于雙層回歸森林模型的自動定位方法能較準確地獲得頭影測量圖像中結構特征點的位置.
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